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“QVI SNAP DM 200 一键测量仪”参数说明
| 是否有现货： | 否 | 品牌： | QVI |
| 加工定制： | 否 | 操作方式： | 程序控制 |
| 分辨率： | 0.001（mm） | 测量行程： | 250*100*75（mm） |
| 放大倍率： | 200 | 测量精度： | 5um |
| 外形尺寸： | 420*610*880（mm） | 型号： | SNAP DM 200 |
| 规格： | SNAP DM 200 | 商标： | QVI |
| 包装： | QVI | 重量： | 200KG |
“QVI SNAP DM 200 一键测量仪”详细介绍
QVI®SNAP™也许是您的工厂中最为高效的品控设备之一。SNAP让复杂的测量变得容易而不失精准。只要将工件放在平台上，选择程序，然后按运行键即可。唾手可得的宽幅大照片SNAP在其宽大的78毫米视场内能够测量任何工件。远心光学镜头在最高放大倍率下精确测量超过35mm厚的工件，或在最低倍率下测量达75mm厚的工件。当向下调节了75mm的平台后，就可测量超过100mm厚的工件。高解析度的视频兆像素级的定制摄像头有着高解析度的视频图像效果。无须移动工件，仪器自带的Video™图像处理器可在视窗任意角度调整焦距，并单独测量任何一个微小细节，分辨率可达50纳米。灵活的照明系统SNAP只使用高亮度的LED冷光灯作为照明系统。SNAP配备了用于轮廓投影的背光，成直角的顶光可观测到钻孔和气孔内径，8扇区可编程的环型光提高了工件表面特征的对比度，有了这三种照明，就可很方便的选择使用适合不同工件的灯光或灯光组合。Measure-X2D测量软件–发挥到极致的性能Measure-X2D测量软件可在一个程序内完成一整套特征测量，不论你有多少个测量点或测量步骤。编程也是非常便捷的——从CAD导入开始，测量样件，或放置好一个工件后，直接测量。Measure-X独特的AutoCorrelate功能允许工件随意放置——用户无须进行工件定位，SNAP会自动识别工件，进行测量。RAMSANP系列型号QVISNAPQVISNAPDM200QVISNAPDM350行程（mm）X78250450Y78100450Z757575外形尺寸（mm）X3404201160Y4206101650Z7508801640工作台承重（KG）4430机台重量（KG）43.556980重复性高倍2um低倍5um高倍2um低倍5um高倍2um低倍5um测量精度低倍10μm+L/150高倍5μm+L/150低倍10μm+L/150高倍5μm+L/150低倍10μm+L/150高倍5μm+L/150测量软件Measure-X光学系统全景镜头，双倍率，图像自动校准摄像机QVI百万高黑白数码相机，像素点大小5.5umQVI百万高精密黑白数码相机，像素点大小2.2umQVI百万高精密黑白数码相机，像素点大小2.2um可视范围低倍78mm高倍9.75低倍100mm高倍25mm低倍100mm高倍25mm图像处理SNAP先进的图像分析单元，256级灰度，10:1-50:1像素的分辨率摄像机景深低倍38mm高倍4.75光源轮廓光LED冷光源，亮度连续可调形环灯光可编程8区智慧灯(红色，绿色或区域可调节）表面光LED冷光源，亮度连续可调选配功能TTL激光选项，具有自动聚焦和扫描功能可编程多色环形灯(PRL)选项SNAP200可视范围可选配:低倍78mm高倍19.5mm高像素摄像头AMF光学扫描及选配Measure-xElements,MeasureFit等软件操作系统及电脑Win7操作系统电脑配置:I3CPU4G内存250G硬盘DVD刻录光盘24寸LED显示器电源220V±10%，50Hz（用电设备要求接地可靠：接地电阻小于4欧姆）工作环境20℃±2℃，温度变化＜2℃/hr，湿度30%~50%振动＜0.0015g，低于15Hz
