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日本AEMIC低阻测试仪AE-1155D高精度内阻测试仪

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有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-11-03 00:35
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“日本AEMIC低阻测试仪AE-1155D高精度内阻测试仪”参数说明

元器件种类: 片状元器件测试仪 型号: Ae-1155D
规格: 低阻测试仪 商标: 日本aemic
包装: 原厂测试仪 产量: 10000

“日本AEMIC低阻测试仪AE-1155D高精度内阻测试仪”详细介绍

最適合自動測量:晶片感應器的DCR / 保險絲電阻等低組值元件

特點
測量範圍:[ %測量 ] 1mΩ9.99mΩ / ±50.0
                 10mΩ10kΩ / ±50.00
       [ mΩ測量 ]0.000mΩ15.000kΩ
輸入超低測量電流,消除被測元件熱起電力影響誤差測量
在脈衝間隔輸入低測量電流以減少自我發熱及測量端子磨損
能設定每個範圍延遲時間,在感應器 / 線圈也能沒誤差或失敗地     
   測量
接觸.檢查功能為標準配備
比較器結果集電極開路輸出,能以LED表示與蜂鳴警告
  GP-IB  /  RS-232C  / Centronics 介面 (選購)
檢查 測量電流 / 測量電壓 是否異常的電路為標準配備
  能轉移輸出

選購
GP-IB 介面 / RS-232C 介面 / Centronics 介面
印表機 / 電纜

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