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“LGA60测试座老化座插座”参数说明
| 形状： | 矩形 | 制作工艺： | 注塑 |
| 接触件材质： | 弹片 | 绝缘体材质： | 弹片 |
| 针数： | 60 | 接口类型： | DIP |
| 特性： | 测试 |
“LGA60测试座老化座插座”详细介绍
请注意，此款LGA52 OPEN-TOP式测试座的限位框是不能更换的，一个测试座只能测一种尺寸，请下单时务必告知您所要测试的LGA52芯片尺寸，LGA52芯片的常用尺寸有：14*18，13*18，12*20，12*17、13*17
我们另有可以自己更换限位框的LGA52测试座销售，一个测试座可以兼容不同尺寸的芯片，请点如下链接购买：
http://item.taobao.com/item.htm?id=8752203325
此链接是单个LGA测试座的价格，座子下面配转DIP48的PCB板。LGA测试座可以直接插在我司的主控板上测试，如果客户要求适应自己的板，可以订做，交期为3-5天。
产品特点及性能参数：
※采用通孔焊接结构保证接触良好，socket与PCBA采用定位孔结合方便更换；
※采用下压式结构,更加便于自动化测试，操作方便简单；
※ 配不同的主控板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换。
产品主要功能：
※ 对Flash进行清空及分类挑选。
※ 对Nand FLASH进行格式化，测试实际可以用容量。
※ 对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。
定制服务：
※ 可以定制TF卡1拖4的夹具；
※ 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台；
※ 可定制三合一开卡器；
※ 可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具；
※ 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用；
※ 可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和基于U盘的低级格式化解决方案；
我们另有可以自己更换限位框的LGA52测试座销售，一个测试座可以兼容不同尺寸的芯片，请点如下链接购买：
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此链接是单个LGA测试座的价格，座子下面配转DIP48的PCB板。LGA测试座可以直接插在我司的主控板上测试，如果客户要求适应自己的板，可以订做，交期为3-5天。
产品特点及性能参数：
※采用通孔焊接结构保证接触良好，socket与PCBA采用定位孔结合方便更换；
※采用下压式结构,更加便于自动化测试，操作方便简单；
※ 配不同的主控板，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换。
产品主要功能：
※ 对Flash进行清空及分类挑选。
※ 对Nand FLASH进行格式化，测试实际可以用容量。
※ 对Flash进行直接量产，提高U盘生产效率。
定制服务：
※ 可以定制TF卡1拖4的夹具；
※ 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台；
※ 可定制三合一开卡器；
※ 可定制基于SSD和基于U盘的LGA测试治具；
※ 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具（兴邦、安国、迈克微），更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用；
※ 可提供FLASH全端测试解决方案；比如，基于编程器（烧录机）原理的烧录（低端格式化）和基于U盘的低级格式化解决方案；
